加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。HAST高压加速应力试验被广泛应用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、制药等行业相关之产品作加速寿命试验。当HAST试验应用于产品的设计阶段时,可以快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，特别是线路板,多层线路板,IC半导体,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测, 测试其制品的耐压性,气密性。HAST试验结果能够分析出何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因。
HAST应用领域：汽车部件、电子零配件、塑胶、制药线路板， IC、LCD、灯饰、照明制品、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等。
参考标准：GB/T 2423.40，IEC 60068-2-66，JESD22-A102等 。
亚标检测优势：
随着电子元器件可靠性的提高，大多电子元器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，亚标检测（AST） 0510-81156908 实验室采用了最新的压力蒸煮锅试验方法，弥补了HAST高压加速老化寿命试验箱的不足。
